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蔡司X射線顯微鏡 Xradia 515 Versa，憑借其突破性技術(shù)和高分辨率探測(cè)器，將3D X射線顯微鏡(XRM)的性能提升至新的高度，為各種尺寸的樣品提供亞微米級(jí)成像解決方案。廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生命科學(xué)、航空航天、考古、地球科學(xué)、電子半導(dǎo)體等領(lǐng)域。

可實(shí)現(xiàn)樣品內(nèi)部亞微米或微米級(jí)的無(wú)損三維結(jié)構(gòu)成像，表征樣品內(nèi)部的二維和三維結(jié)構(gòu)，直觀地展示樣品內(nèi)部不同密度的微觀結(jié)構(gòu)、內(nèi)部孔隙、微裂紋等信息。

可用于研究樣品在原位的狀態(tài)下（力學(xué)拉伸/壓縮或加熱/制冷）的變化情況，實(shí)現(xiàn)四維分析。

材料科學(xué)領(lǐng)域應(yīng)用案例：

工作原理：利用電子和物質(zhì)的相互作用，可以獲取被測(cè)樣品的形貌、物相組成、元素的分布及相對(duì)含量。

SEM的應(yīng)用：探頭接收激發(fā)的二次電子、俄歇電子、背散射電子，可將微觀物體放大至十幾萬(wàn)倍，觀察其由微米至納米級(jí)別的形貌。

EDS的應(yīng)用：探頭接收激發(fā)特征X射線，可定義物體SEM呈現(xiàn)區(qū)域的元素種類及相對(duì)含量。可采集點(diǎn)、線、面的元素分布情況。

樣品要求：粉末、塊體、顆粒均可。樣品必須保證干燥無(wú)水；若樣品內(nèi)含有孔隙，盡量降低樣品的幾何尺寸（越小越好）。

SEM案例展示：

SEM+EDS案例展示：

材料科學(xué)領(lǐng)域：原子力顯微鏡可以獲得材料表面的3D形貌、表面粗糙度和高度等信息。在半導(dǎo)體工業(yè)領(lǐng)域，可以用于檢測(cè)基片表面拋光缺陷、圖形化結(jié)構(gòu)。

樣品：粉末、薄膜、塊體均可。粉末需要經(jīng)水或者酒精分散烘干后測(cè)試，薄膜和塊體的粗糙度須小于5微米。

AFM案例展示：

材料科學(xué)領(lǐng)域：原子力顯微鏡可以獲得材料表面的3D形貌、表面粗糙度和高度等信息。在半導(dǎo)體工業(yè)領(lǐng)域，可以用于檢測(cè)基片表面拋光缺陷、圖形化結(jié)構(gòu)。

原理：將粉末的孔隙模型化成圓柱形，P0為N2的飽和增蒸汽壓，隨著壓力的逐漸增大，孔內(nèi)氮?dú)馕搅恐饾u增加，直至壓力值等于氮?dú)獾娘柡驼羝麎骸２煌膲毫χ祵?duì)應(yīng)不同的孔徑，壓力越小，孔徑越小。

測(cè)試：比表面積、介孔、微孔、全孔。

應(yīng)用領(lǐng)域：能源、電池、醫(yī)藥等。

樣品：粉末。

全自動(dòng)多站式微孔物理吸附儀案例展示：

經(jīng)過(guò)不同的模型計(jì)算，直接的測(cè)試結(jié)果有比表面積，平均孔徑、孔體積、單點(diǎn)比表面積等。

原理：不同粒徑的顆粒對(duì)光的散射程度不同，顆粒尺寸越大，散射效果越不顯著，顆粒尺寸越小，散射效果越明顯。

測(cè)試方法：干法、濕法。

應(yīng)用領(lǐng)域：建材、化工、冶金、能源、食品等行業(yè)。

樣品：粉末。

激光粒度儀案列展示：

X射線衍射儀 (XRD，X-Ray Diffraction)是利用衍射原理（布拉格方程），精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，進(jìn)行物相分析，定性分析，定量分析，它所獲取的信息均基于材料的原子點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)。

X射線衍射儀廣泛應(yīng)用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教學(xué)，材料生產(chǎn)等領(lǐng)域。

樣品：粉末、塊體 、薄膜均可。

X射線衍射儀案列展示：

原理：入射光與分子鍵相互作用，受激發(fā)的分子鍵發(fā)生振動(dòng)或轉(zhuǎn)動(dòng)，并散射出與入射光頻率不等的光，從而產(chǎn)生拉曼活性，形成拉曼峰。

測(cè)試方法：點(diǎn)掃描、線掃描、面掃描。

應(yīng)用領(lǐng)域：半導(dǎo)體、聚合物、碳材料、地質(zhì)學(xué)、生命科學(xué)、醫(yī)學(xué)、化學(xué)、環(huán)境、物理。

樣品：具有拉曼活性的粉末、 液體 、固體均可。

拉曼案例展示：

測(cè)試方法：垂直方向、水平方向

應(yīng)用領(lǐng)域：建筑材料、航空航天材料、汽車(chē)材料

樣品：垂直方向的導(dǎo)熱，直徑為12.5-12.7mm的圓片，厚度為2-4mm；水平方向的熱擴(kuò)散系數(shù),直徑為25.4mm的圓片，厚度小于0.1mm。

DSC的內(nèi)容：

1.探測(cè)吸熱和放熱效應(yīng)

2.測(cè)量峰的面積（轉(zhuǎn)變和焓變）

3.確定發(fā)生反應(yīng)的溫度

4.藍(lán)寶石法測(cè)量物質(zhì)的比熱容

適用范圍：塊狀固體、粉末、液體

TG的測(cè)量?jī)?nèi)容：

熱重法是在程序控溫下，測(cè)量物質(zhì)的質(zhì)量隨溫度(或時(shí)間)的變化關(guān)系

（1）無(wú)機(jī)物、有機(jī)物及聚合物的熱分解；

（2）金屬在高溫下受各種氣體的腐蝕過(guò)程；

（3）固態(tài)反應(yīng)；

（4）礦物的煅燒和冶煉；

（5）液體的蒸餾和汽化；

（6）煤、石油和木材的熱解過(guò)程；

（7）含濕量、揮發(fā)物及灰分含量的測(cè)定；

（8）升華過(guò)程；

（9）脫水和吸濕；

（10）反應(yīng)動(dòng)力學(xué)的研究；

（11）吸附和解吸；

（12）反應(yīng)機(jī)制的研究。

樣品：易燃易爆且對(duì)設(shè)備具有腐蝕性的樣品不做檢測(cè)，檢測(cè)的溫度范圍為室溫-1200攝氏度。

DMA的測(cè)量?jī)?nèi)容：

動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析（DMA）測(cè)量粘彈性材料在周期性力或位移作用下的力學(xué)性能與溫度或頻率之間的關(guān)系。

應(yīng)用：模量、阻尼、玻璃化溫度、弱化溫度、固化速率和固化度、粘度、凝膠點(diǎn)、吸聲性和抗沖擊性、蠕變、應(yīng)力松弛等。

布魯克DEKTAK XT 適用于納米尺度的表面輪廓測(cè)量、薄膜厚度測(cè)量和平整度等精密測(cè)量。

應(yīng)用于微電子、半導(dǎo)體、太陽(yáng)能、高亮度LED、觸摸屏、醫(yī)療、科學(xué)研究和材料科學(xué)領(lǐng)域。

樣品：具有臺(tái)階且比較平整。

原理：通過(guò)燃燒將待測(cè)樣品中的化合物汽化，汽化后移出的快慢與濃度對(duì)應(yīng)峰的位置和峰的面積。然后根據(jù)峰的位置和面積與標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行對(duì)比，從而計(jì)算樣品中待測(cè)化合物的含量?；衔锏姆悬c(diǎn)應(yīng)不大于200℃。

應(yīng)用領(lǐng)域：環(huán)境、生物化學(xué)、藥物、石油加工、有機(jī)化學(xué)

樣品：燃燒點(diǎn)小等于200攝氏度的有機(jī)化合物。

原理：根據(jù)不同物質(zhì)的分子或原子對(duì)光譜中一定波長(zhǎng)的光進(jìn)行選擇性的吸收，分子結(jié)構(gòu)發(fā)生振動(dòng)

應(yīng)用領(lǐng)域：環(huán)境、化學(xué)等。

樣品：液體、薄膜。

原理：磁學(xué)測(cè)量系統(tǒng)是一類專門(mén)用于測(cè)量材料磁性的精密儀器。它們能夠在不同的溫度和磁場(chǎng)條件下，對(duì)材料的磁化強(qiáng)度、磁化率、磁滯回線、磁導(dǎo)率等磁性參數(shù)進(jìn)行非破壞性的測(cè)量。

應(yīng)用領(lǐng)域：物理、材料、化學(xué)、生物、地質(zhì)等學(xué)科。

樣品：塊材、薄膜、粉末、液體、單晶及納米材料。